Fraunhofer-Verbund IUK-TechnologieIn der industriellen Qualitätsprüfung stehen in der Regel sehr viele Daten von »guten Bauteilen«, aber nur wenige Daten von defekten Bauteilen zur Verfügung.
So auch bei der automatischen optischen Inspektion. Hier kommt die zusätzliche Schwierigkeit hinzu, dass das Labelling der Daten sehr aufwändig ist. Diesen Problem kann durch die Simulation von Bilder begegnet werden. In dieser Demo wird am Beispiel einer Lochscheibe die sensorrealistische Bildsimulation und der KI-baiserten Defektdetektion vorgestellt.